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LUNA公司的OVA5100是最快速、精確、高效的光矢量分析儀，可用千現代 光學設備和系統的損耗、偏振、色散等光學參數的分析與測試，包括光子集成電路(PIC)。
單次測犀即可獲取光器件的所有參數
3秒內完成器件特性測試
完整的偏振響應
單次掃描可同步測量：
－損耗(IL及RL)
－色散 (CD)
－群延時 (GD)
－偏振相關損耗(PDL)
－偏振模色散(PMD)和二階PMD －光時域響應
－瓊斯矩陣
－光學相位響應
實時測量
友好的用戶界面
高分辨率C和L波段(OVA5100)或O波段(OVA5113)測試能力
平面光波導和硅光器件分析
光纖器件測晝
同時測量時域及頻域響應
獲得完整的光學傳遞函數， 可用于改進器件模擬和模型
